文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-CT-033
分類 形状・形態観察、分析 > 膜厚・段差・粗さ測定
表面分析装置 > その他表面分析
分光 > 紫外可視近赤外分光
分光 > 薄膜用紫外〜赤外反射
物性測定 > 粘弾性測定
その他材料評価 > 膜厚測定装置(エリプソメーター)
バルク分析装置 > 電気・磁気特性測定
設備名 表面物性測定装置群
(Surface analyzers)
地域 北海道
設置機関 千歳科学技術大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

1. 非接触光学式薄膜計測システム
    Scientific Computing International 社製 Film Tek4000
    膜厚測定範囲: 3nm~200μm    
    測定波長範囲: 190~1700nm
2.分光エリプソメーター
    日本分光社製 M-150
    計測波長範囲: 250~850nm
3. 顕微分光システム
    Photon Design社製 PDP-353
    測定可能波長範囲: 250~1000nm
4. 接触角計
    協和界面科学社製 DM-501
    液滴自動認識
5. その他

 

S-CT-033 S-CT-033 S-CT-033 S-CT-033

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)