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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-CT-026
分類 表面分析装置 > 走査型電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 > 電界放出型走査電子顕微鏡
表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
走査電子顕微鏡 > 低真空走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 > 電子線マイクロアナライザ
形状・形態観察、分析 > 走査電子顕微鏡(SEM)
設備名 電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
(Field emission scanning electron microscope)
地域 北海道
設置機関 千歳科学技術大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

日本電子社製  JSM-7800F (2013.12.13新規導入)
加速電圧:0.01~30kV
倍率: 25~1,000,000倍
装備オプション:EDS, STEM, BED, USD, 低真空システム

S-CT-026

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