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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID F-TT-219
分類 形状・形態観察、分析 > 分光(光、電子線、イオン線、プラズマ、磁気、X線)
表面分析装置 > X線回折(XRD)
X 線回折 > 粉末・薄膜 X 線回折(XRD)
設備名 多目的X線回折装置
(Multipurpose X-ray diffraction analysis system)
地域 中部
設置機関 豊田工業大学
研究分野 微細加工
担当部署または担当者 田代孝二 教授
山元博子 支援員
仕様

リガクRINT TTR III DSC同時測定X線粉末装置

  • 高速1次元X線検出装置D-tex/25を搭載した粉末・薄膜用X線回折装置。水平型ゴニオメータを採用しており、液体や溶融させた試料の測定が可能である。
  • アタッチメントとしてDSC、湿度調節装置があり、昇降温や加湿過程など様々の条件下での広角X線回折プロファイルの連続測定が可能である。
    【X線】Cu-Kα(λ=1.5418Å)、Mo-Kα(λ= 0.7108Å)、
    【測定温度域】-40~350℃、
    【昇降温速度】0.5~10℃/min
F-TT-219

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