文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID F-KT-279
分類 形状・形態観察、分析 > 膜厚・段差・粗さ測定
設備名 触針式段差計(CR)
(Stylus Profilometer-1)
地域 近畿
設置機関 京都大学
研究分野 微細加工
担当部署または担当者 京大ナノハブ
仕様

(株)アルバック社製 Dektak150

  • 垂直方向分解能/測定レンジ
    0.1nm/6.5μm,1nm/65.5μm,8nm/524μm 
  • 垂直分解能(最高)  0.1nm 
  • 測定距離  50μm~55mm 
  • サンプルステージサイズ  直径150mm 
  • ステージ移動範囲
    X:±50mm  Y:+75mm,-25mm  θ:360°
F-KT-279

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)