文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID F-KT-269
分類 形状・形態観察、分析 > 走査プローブ顕微鏡(SPM)
走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
設備名 走査型プローブ顕微鏡システム
(Bioscience Atomic Force Microscope)
地域 近畿
設置機関 京都大学
研究分野 微細加工
担当部署または担当者 京大ナノハブ
仕様

JPKインスツルメンツAG社製  NanoWizard III NW3-XS-0他
大気中または液体中でのAFM計測
AFM測定と光学測定を同時実行可能(データ重ね合わせ表示可能)
使用可能サンプル形態
    スライドガラス、シャーレ、カバーガラスなど観察面が水平なもの。
    また、直径15㎝の円盤の場合、中央部のみを観察可能。

F-KT-269

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