文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-UT-064
分類 透過電子顕微鏡 > 汎用透過電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
設備名 高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡(JEM-2000EX)
(High Resolution Top Entry Type Transmission Electron Microscope JEM-2000EX(JEOL))
地域 関東
設置機関 東京大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様
  1. 本体
    加速電圧 : 80、100、120、160、200kV
    電子線源 : 単結晶LaB6
    分解能 : 0.1nm(格子像)
    試料最大傾斜角 : ±10°
    排気方式 : 油拡散ポンプ

  2. 画像記録
    シートフィルム
A-UT-064

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)