文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-UT-063
分類 透過電子顕微鏡 > 汎用透過電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
設備名 ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC)
(High Contrast Transmission Electron Microscope JEM-2010HC(JEOL))
地域 関東
設置機関 東京大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様
  1. 本体
      加速電圧 : 80、100、120、160、200kV
      電子線源 : 単結晶LaB6
      試料最大傾斜角 : ±30°
      試料移動 : モーター駆動(X、Y、Z)
      排気方式 : ターボ分子ポンプ(TMP)

  2. 画像記録  
    シートフィルムおよびデジタル画像
A-UT-063

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