文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-UT-056
分類 透過電子顕微鏡 > クライオ電子顕微鏡
表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
表面分析装置 > 電子エネルギー損失分光(EELS)
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
設備名 クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子)
(Cryogenic Transmission Electron Microscope JEM-2100F(JEOL))
地域 関東
設置機関 東京大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

□ 主な仕様

  • ショットキー型FE電子銃装備
  • 分解能<0.31nm
  • EDS、EELS検出器装備
  • TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備
  • 極低温観察用クライオトランスファホルダ装備
  • CCD検出器(4k×4k,1k×1k)
A-UT-056

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)