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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-UT-055
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
設備名 超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子)
(Ultrahigh Resolution Transmission Electron Microscope JEM-ARM200F Thermal FE (JEOL))
地域 関東
設置機関 東京大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

□ 主な特長

  • 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解能が0.11nmまで向上
  • 高圧、対物電流の変動を従来機の50%に抑制し、電気的安定度を大幅に向上
  • 鏡筒径を大きくし剛性を高めるとともに、架台の構造を最適化し、装置全体の機械的強度を従来機の約2倍に強化し、機械的安定度を向上
  • 熱および磁気シールドを標準装備。また、装置周囲の対流の変化による鏡筒表面の温度変化を防ぐために、鏡筒全体をカバーで被覆

□ 主な仕様

  • 分解能:透過顕微鏡像 0.11nm(加速電圧200kV)
  • 倍率:走査透過像 200~150,000,000倍
  • 透過顕微鏡像 50~2,000,000倍
  • 収差補正装置:結像系球面収差補正装置
  • 検出器:CCDカメラ×2
A-UT-055

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