文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-UT-053
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
表面分析装置 > 電子エネルギー損失分光(EELS)
設備名 軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子)
(Ultrahigh Resolution STEM for light element imaging JEM-ARM200F Cold FE(JEOL))
地域 関東
設置機関 東京大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

□ 主な特長

照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能 0.08nmを実現

□ 主な仕様

  • 分解能:走査透過像※ 0.08nm (加速電圧200kV)※環状型暗視野検出器を使用
  • 倍率:走査透過像 200~150,000,000倍
  • 透過顕微鏡像 50~2,000,000倍
  • 収差補正装置:照射系球面収差補正装置 組み込み
  • 検出器:エネルギー分散形X線分析装置 (EDS)、電子線エネルギー損失分光器(EELS)、軽元素対応像検出器、CCD検出器(2k×2k)
A-UT-053

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)