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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-OS-105
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
設備名 走査透過型電子顕微鏡
(Scanning transmission electron microscope JEM-ARM200F)
地域 近畿
設置機関 大阪大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

日本電子製JEM-ARM200F
走査透過型電子顕微鏡

加速電圧:200kV,EDS、EELS分析機能

A-OS-105

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