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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NU-095
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
設備名 高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡
(Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 超高圧電子顕微鏡施設
仕様

日本電子製JEM-ARM200(Cold)

  • 照射レンズ系に収差補正機能を搭載  
  • 加速電圧: 200,80kV
  • TEM, STEM, EDS, EELS

 Ultra-high resolution dedicated analytical STEM with illumination system aberration-corrected (accelerating voltages of 80, 120 and 200 kV) equipped with cold-FEG, 4th generation GIF Quantum, large area (100 mm2) SDD for EDX. The Dual EELS, Diffraction imaging and fast scan spectrum imaging options are available

A-NU-095

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