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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NU-092
分類 透過電子顕微鏡 > 分析電子顕微鏡
設備名 高分解能分析電子顕微鏡
(High resolution analytical electron microscope)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 超高圧電子顕微鏡施設
仕様

日本電子製  JEM-2010F

  • 加速電圧:80/120/160/200kV
  • 分解能  TEM:0.19nm
  • 元素分析:EDX

    Conventional analytical STEM (Schottky-type FEG, accelerating voltage up to 200 kV), equipped with EDX.

A-NU-092

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