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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NU-089
分類 透過電子顕微鏡 > 分析電子顕微鏡
設備名 電子分光走査透過電子顕微鏡
(Analysis Electron Microscope)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 超高圧電子顕微鏡施設
仕様

日本電子製JEM2100M

  • 加速電圧: 200kV
  • EELS, 波長分散X線分光器(WDX)
  • カソードルミネッセンス(CL)
  • 100K-1000Kの温度範囲で計測可
  • エネルギー分散X線分析(EDX)

Analytical S/TEM (Lab6, accelerating voltages of 80-200 kV), equipped with EELS, EDX, WDX, cathodoluminescence (CL), and backscattered electron detector.

Available between 100-1200 K.

 

A-NU-089

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