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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NU-086
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
設備名 電界放出走査透過電子顕微鏡
(High Resolution Electron Microscope)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 超高圧電子顕微鏡施設
仕様

日本電子製EM-10000BU
    照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載  
    加速電圧: 200,80kV
    TEM, STEM, EDS, EELS
    電子線ホログラフィー

Magnetic fields can be observed using electron beam holography with a cold field emission electron microscope (acceleration voltage of 200 kV). By using a magnetic field shielding lens, the magnetization distribution of magnetic materials can be directly magnified 500,000 times and magnified 1.5 million times on a monitor for observation.
The internal potential distribution can also be observed at nanometer scale.

 

A-NU-086

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