文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NM-098
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 > 分析電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 > 環境制御透過電子顕微鏡
表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
表面分析装置 > 電子エネルギー損失分光(EELS)
設備名 実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡
(Real working environmental electron holography microscope)
地域 関東
設置機関 物質・材料研究機構
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

日本電子社製JEM-ARM200F

照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200&80kV&60kV。TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホログラフィー, 3D観察, 高温(~1200℃)・低温(~-160℃)・ガス雰囲気・光照射・バイアス印加などのその場観察が可能。

A-NM-098

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