文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NM-083
分類 放射光計測装置 > X線吸収微細構造(XAFS)
設備名 高輝度放射光薄膜・ナノ構造用回折計
(8-axis diffractometer for structural analysis of functional thin films)
地域 近畿
設置機関 物質・材料研究機構
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

試料表面内、面直方向の3次元の原子配置構造の解析が可能。結晶性の薄膜機能材料の表面、界面のマイクロラフネス、薄膜の格子歪、電荷密度の深さ方向分布などが検出可能。0次元検出器とスリット系との組み合わせによる高角度分解能測定が可能。入射X線エネルギーEの推奨範囲は10-20 keV。試料の回転用に4軸、検出器の回転用に2軸を有する。
単色光(DE/E ~10-4)。

A-NM-083

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)