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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-KU-116
分類 透過電子顕微鏡 > 電界放出型透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 > 分析電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 > ローレンツ電子顕微鏡
設備名 ローレンツ電子顕微鏡 (TECNAIG2-F20)
(Analytical Lorentz electron microscope (TECNAI-F20))
地域 九州・沖縄
設置機関 九州大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 超顕微解析研究センター
仕様

熱電界放射電子銃とエネルギー分散型X線検出器を搭載した分析電子顕微鏡。STEM像(BF, HAADF)観察、STEM元素マッピングやSTEMによる結晶性材料の3次元トモグラフィー解析が可能。またローレンツ電顕法による磁性材料の磁区観察も可能。

A-KU-116

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