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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-KU-114
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
設備名 収差補正走査/透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F)
(Atomic resolution analytical electron microscope (JEM-ARM200F))
地域 九州・沖縄
設置機関 九州大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 超顕微解析研究センター
仕様

照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を装備した原子分解能電子顕微鏡。収差補正対応加速電圧 60, 80, 120, 200kV。世界最高感度のSDD型X線検出器(立体角0.8sr)と電子エネルギーフィルター(GIF Quanta)を装備。
ナノ粒子や炭素系などの軽元素材料の高分解能観察・解析、原子分解能STEM-BF,ABF,HAADF像観察、高分解能元素マッピング、電子状態解析。

A-KU-114

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