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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-KT-095
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
設備名 収差補正透過電子顕微鏡
(Spherical-aberration-corrected transmission electron microscope)
地域 近畿
設置機関 京都大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 倉田博基
清村勤
仕様

日本電子社製JEM-2200FS

  • 加速電圧:200kV
  • 結像系球面収差補正装置  (CEOS社製)
  • 電子銃:ショットキー型
  • 分解能:0.1 nm
A-KT-095

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