文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-HK-006
分類 透過電子顕微鏡 > 汎用透過電子顕微鏡
表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
表面分析装置 > 電子エネルギー損失分光(EELS)
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
設備名 200kV分析電子顕微鏡
(Analysis FE-TEM (JEOL:JEM-2010F))
地域 北海道
設置機関 北海道大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 ナノテク連携研究推進室
超高圧電子顕微鏡室
仕様

日本電子製JEM-2010F
    加速電圧:200kV
    分析機能:EDS、EELS、GIF、STEM
    電界放射銃搭載:

A-HK-006

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