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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-HK-030
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
設備名 収差補正走査型透過電子顕微鏡
(Atomic Resolution Analytical Electron Microscope (JEM-ARM200F ))
地域 北海道
設置機関 北海道大学
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 ナノテク連携研究推進室
仕様

日本電子製:JEM-ARM200F
    加速電圧:80kV、200kV
    分析機能:EDS,ELLS
    STEM収差補正機能

A-HK-030

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