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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-AT-047
分類 バルク分析装置 > 元素・組成分析
放射光計測装置 > X線吸収微細構造(XAFS)
設備名 超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS)
(X-ray absorption fine structure spectroscopy with a superconducting fluorescence detector (SC-XAFS))
地域 関東
設置機関 産業技術総合研究所
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 ANCF事務局: ancf-contact-ml[アット]aist.go.jp ([アット]を@にして送信下さい)
仕様

産総研自主開発:
エネルギー分散超伝導検出器を搭載し、母材中の微量軽元素や重い元素のL, M線のX線吸収微細構造測定により、特定の微量元素の原子スケール構造解析を行う。米ALSに同様の装置があるのみ。省エネ半導体ドーパント、酸化物、磁性体などの原子配位や電子状態を評価。

  • 蛍光X線エネルギー範囲:100 eV - 15 keV
     (<1keVは超伝導、>1keVは半導体検出器でカバー)
  • エネルギー分解能: 12 eV (窒素のK線、酸素のK線)
  • 計数率: 500 kcps
  • 冷却:液体ヘリウム供給を必要とせず、機械式冷凍機による自動冷却にて0.3 Kまで冷却。
A-AT-047

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