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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-AE-114
分類 放射光計測装置 > X線吸収微細構造(XAFS)
設備名 エネルギー分散型XAFS装置
(Energy Dispersive XAFS Spectrometer)
地域 近畿
設置機関 日本原子力研究開発機構
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 JAEA環境・構造物性研究グループ 松村大樹
仕様

設置場所:BL14B1(量子科学技術研究開発機構)
計測可能な吸収端エネルギー:5~90 keV
特徴:二結晶分光器を用いた通常型X線吸収分光(XAFS)測定に加え、湾曲分光結晶を用いた分散型XAFS測定を行うことができる。通常型XAFS測定では、蛍光法において36素子半導体検出器を使用。試料温度は20-1073 K。ガス制御システムによる一酸化炭素・一酸化窒素を含んだ雰囲気制御や、四重極質量分析器によるガス成分分析も実施可能。

研究例:触媒反応機構のその場実時間観察

A-AE-114

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