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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-AE-113
分類 放射光計測装置 > X線吸収微細構造(XAFS)
設備名 XAFS測定装置
(XAFS measurement system)
地域 近畿
設置機関 日本原子力研究開発機構
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者 JAEAアクチノイド化学研究グループ 塩飽秀啓
仕様

設置場所:BL11XU(量子科学技術研究開発機構)
光エネルギー:6~70 keV
特徴:アンジュレータからの高輝度・高エネルギーX線を利用したXAFS測定が可能。時分割実験のための高速計測(Quick XAFS)にも対応する。検出器はイオンチェンバー、NaIシンチレーション、Ge半導体など各種用意。低温測定のためのクライオスタットも整備している。

研究例:機能性分子設計のための構造解析・電子状態解析

A-AE-113

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