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中分類検索結果

大分類:その他材料評価
研究機関:大阪大学
研究分野:分子・物質合成

その他材料評価

被測定物質の下記の多様な物性を測定する装置群である.粒子径および粒径分布,高分子の数平均絶対分子量および分子集合体の見かけの分子量(会合数),試料の融点,ガラス転移温度,電位(ゼータ電位), CHNSO分析,化学状態の定量,太陽電池特性,高分子の力学的特性,多層膜厚,高分子の分子量および分子サイズ.

該当する中分類件数:3件

ゼータ電位計,パーティクルサイズアナライザー

英語名:zeta potential measuring instrument.一般に,液体中の各粒子の表面電位を直接測定するのは困難なために,ゼータ電位を求めることになる.各粒子の表面電位やゼータ電位は,粒子の分散の安定性,また表面改質の効果を検討する上で重要なポイントである.また,ゼータ電位は粒子の周りの環境(液温,pH,添加剤,界面活性剤など)により変化するため,目的とする条件下において粒子がどのような状態にあるかを推察する上でも重要な情報である.ゼータ電位を指標に粒子の分散性や,壁面への粒子の吸着性をコントロールできる.

太陽電池評価システム

太陽電池(有機太陽電池,色素増感太陽電池)に疑似太陽光を照射し,太陽電池特性を評価する.

膜厚測定装置(エリプソメーター)

英語名:ellipsometer.エリプソメトリとは物質の表面で光が反射するときの偏光状態の変化(入射と反射)を観測し,そこから物質に関する情報を求める方法.分光エリプソメトリーは現在,薄膜の膜厚や光学定数を求める一般的な手法となっている.誘電体・半導体・金属・有機膜など,さまざまな物質解析に用いられている.