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大分類:その他材料評価

その他材料評価

被測定物質の下記の多様な物性を測定する装置群である.粒子径および粒径分布,高分子の数平均絶対分子量および分子集合体の見かけの分子量(会合数),試料の融点,ガラス転移温度,電位(ゼータ電位), CHNSO分析,化学状態の定量,太陽電池特性,高分子の力学的特性,多層膜厚,高分子の分子量および分子サイズ.

該当する中分類件数:9件

動的光散乱

英語名:Dynamic Light Scattering.液体中の粒子がブラウン運動により拡散する速度(拡散係数)を計測することで粒子径を測定できる.即ち,懸濁液中の粒子または分子のブラウン運動は,レーザー光を異なる強度で散乱させ,これらの強度の変化を解析することでブラウン運動の速度が得られ,これにストークス・アインシュタインの式を使用して粒径を求めることができる.主な用途は,液体に分散または溶解された粒子,エマルション,分子の特性評価である.簡便性からナノ粒子の測定に使用される.

絶対分子量測定

蒸気圧式絶対分子量測定装置は,平均分子量Mnは,媒体に不揮発性溶質が溶解している時の蒸気圧が,同じ温度・同じ圧力下で純粋な溶媒よりも低くなるという原理に基づいている.この溶媒とサンプルの温度差を精密に測定する蒸気圧法により,高分子の数平均絶対分子量および分子集合体の見かけの分子量(会合数)を測定できる.

熱測定

英語名:Differential Scanning Calorimetry, DSC.測定試料と基準物質との間の熱量の差を計測することで,融点・結晶化点・ガラス転移点や酸化安定性などの化学的性質を観測できる.

ゼータ電位計,パーティクルサイズアナライザー

英語名:zeta potential measuring instrument.一般に,液体中の各粒子の表面電位を直接測定するのは困難なために,ゼータ電位を求めることになる.各粒子の表面電位やゼータ電位は,粒子の分散の安定性,また表面改質の効果を検討する上で重要なポイントである.また,ゼータ電位は粒子の周りの環境(液温,pH,添加剤,界面活性剤など)により変化するため,目的とする条件下において粒子がどのような状態にあるかを推察する上でも重要な情報である.ゼータ電位を指標に粒子の分散性や,壁面への粒子の吸着性をコントロールできる.

元素分析

燃焼法による有機物の精密な元素分析法.サンプルを酸素を混合したヘリウム気流下で,高温に加熱し(酸化炉),構成元素のうち炭素は CO2,窒素はNOx,硫黄はSOx,水素はH2Oに変換する.このガスを別の炉(還元炉)に移し,Cu 存在下加熱すると NOx が還元されて N2 となる.このCO2,N2,H2Oを定量することによって,それぞれの元素の比率を算出する.したがって酸素は直接測定できない.また,燃焼して気化しない元素は灰分として残る.

走査型透過軟 X 線顕微鏡(STXM)

英語名:Scanning Transmission X-ray Microscopy(STXM)は,サブミクロンの集光X線に対して,微小な試料を走査して,透過したX線の強度を検出し軟X線吸収(X-ray Absorption Near Edge Structure, XANES)スペクトルを測定することが可能な,化学状態分析に有力な手法である.

太陽電池評価システム

太陽電池(有機太陽電池,色素増感太陽電池)に疑似太陽光を照射し,太陽電池特性を評価する.

高分子計測装置群

高分子の力学的特性の評価.

膜厚測定装置(エリプソメーター)

英語名:ellipsometer.エリプソメトリとは物質の表面で光が反射するときの偏光状態の変化(入射と反射)を観測し,そこから物質に関する情報を求める方法.分光エリプソメトリーは現在,薄膜の膜厚や光学定数を求める一般的な手法となっている.誘電体・半導体・金属・有機膜など,さまざまな物質解析に用いられている.