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大分類:X 線回折

X 線回折

英語名:X-ray Diffraction, XRD.X線が結晶格子で回折を示す現象.この現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である.ここでは,単結晶X線構造解析装置,粉末・薄膜X線回折装置素指す.これ等によって,被測定物質の格子定数や結晶構造の対称性,結晶内部の原子配列などを求めることができる.

該当する中分類件数:2件

単結晶 X 線構造解析

単結晶試料にX線を照射し,回折されたX線の角度・強度から試料の構造を解析する.X線の散乱強度からは結晶構造因子の絶対値は求まるが,その位相については知ることができない.重原子法と呼ばれる方法や直接法(direct method)と呼ばれる方法を用いて位相を定める.

粉末・薄膜 X 線回折(XRD)

粉末試料にX線を照射し,回折されたX線の角度・強度から試料の構造解析ができる.通常,未知試料を同定するために行われる.粉末X線回折で得られる回折X線強度はさまざまな方向をランダムに向いた単結晶からの回折の総和となる.既知の物質については入射角と回折強度がデータベース化されており,これと照合することで未知試料の同定を行うことができる.薄膜試料にX線を当てる場合,X線はその表面の数百μmまでしか侵入しない.そのためX線回折法は物質表面に限定して結晶構造を調べる手法となる.X線の入射角を調整することによって,膜面面内方向の格子定数も測定することができる.