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大分類:放射光計測装置

放射光計測装置

英語名:Measuring Instrument using Synchrotron Radiation.放射光を用いて物質の表面と内部の構造及び電子状態等を分析する装置.放射光は,高エネルギーの電子等の荷電粒子が磁場中でローレンツ力により曲がるときに放射する電磁波で,波長は赤外線からX線に及ぶ.放射光の特徴には,著しい指向性と高い光度があり,微量,微細領域,高エネルギー精度の分析などが可能である.

該当する中分類件数:5件

X線吸収微細構造(XAFS)

英語名:X-ray Absorption Fine Structure (XAFS).物質にX線を照射した際の吸収スペクトルを解析すると,吸収端近傍にX線吸収原子の電子状態や局所構造の対称性を反映したピーク構造が表れる.通常このピーク構造は小さいため,測定には放射光X線が必要となる.

X線回折法(XRD)

英語名:X-Ray Diffraction (XRD).X線を物質に照射すると,物質中の原子・分子の配列に応じた回折現象を起こす.この回折パターンを分析することにより,原子・分子の配列パターンを求めることが可能である.格子定数や結晶構造の対称性の決定に用いられる.

X線光電子分光法(XPS)

英語名:X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS),もしくはElectron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA).物質にX線を照射して物質を構成する原子の電子を励起し,外部に放出された光電子の持つエネルギーから原子の結合エネルギーを求め,物質中の元素を特定する.元素の酸化状態による結合エネルギーの変化を利用して酸化状態の特定も可能.

共鳴X線非弾性散乱(RIXS)

英語名:Resonant Inelastic X-ray Scattering (RIXS) もしくはResonant X-ray Emission Spectroscopy (RXES).共鳴X線発光分光とも呼ぶ.入射X線により外殻に共鳴励起された内殻電子が緩和する過程で放出する入射X線よりも小さなエネルギーのX線を分光することにより、電子の運動状態を解析する.

軟X線磁気円二色性測定(XMCD)

英語名:Soft X-ray Magnetic Circular Dichroism (XMCD).X線を用いて物質の磁性を研究する手法.磁性体はX線吸収係数が左右円偏光によって異なることを利用し,入射X線の円偏光の向きによるMCD スペクトルの変化から軌道磁気モーメント及びスピン磁気モーメントの大きさを分離して求められる.