参画機関から

微細構造解析 産業技術総合研究所 産業技術総合研究所

ナノテクノロジープラットフォーム 産総研微細構造解析プラットフォーム「H30年度第1回地域セミナー」(10月5日)開催のお知らせ

-先端計測分析技術であなたの研究開発をサポートします!-

【日時】2018年10月5日(金)13:30~17:00
【場所】御茶ノ水ソラシティカンファレンスセンター1F ROOM A
 〒101-0062 東京都千代田区神田駿河台4-6

【主催】国立研究開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
【共催】文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム

【プログラム】
13:30-13:45 開会 概要説明
              分析計測標準研究部門 副研究部門長 齋藤 直昭
13:45-14:10 「陽電子プローブマイクロアナライザー」
               分析計測標準研究部門 主任研究員 O'Rourke Brian
14:10-14:35 「超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置」
               ナノエレクトロニクス研究部門 主任研究員 志岐 成友
14:35-15:00 「極端紫外光光電子分光装置」
               ナノエレクトロニクス研究部門 招聘研究員 松林 信行
15:00-15:25 「超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡」
               ナノエレクトロニクス研究部門 研究員 藤井 剛
15:25-15:35 休憩 
       
15:35-16:00 「可視-近赤外過渡吸収分光計測装置」
               分析計測標準研究部門 研究員 細貝 拓也
16:00-16:25 「リアル表面プローブ顕微鏡」
               分析計測標準研究部門 主任研究員 井藤 浩志
16:25-16:50 「固体NMR装置」
               物質計測標準研究部門 テクニカルスタッフ 林 繁信
16:50-17:00 閉会


◆参加費:無料
◆定 員:30名

【お問い合せ・参加申込】産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
 E-mail:ancf-info-ml(at)aist.go.jp Tel:029-861-5300

詳しくは,添付資料をご参照ください.