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第3回 分析TEMユーザーズミーティング(3月9日)開催のお知らせ

 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業の一環として北海道大学に新たな分析用TEMとしてFEI 社製 Titan Cubed G2 60-300が導入・運用開始され,3年が経過いたしました.また,日本電子社製JEM-ARM200FCもナノテクノロジープラットフォームに提供され2年が経過し,現在まで,多くのユーザーの皆様にご利用いただいております.そこで,最新の分析TEMに関する情報の共有化を目的として,「第3回分析TEMユーザーズミーティング」を開催させて頂く運びとなりました.

 今回は北大内の研究者の皆様にナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて得られた成果をご紹介いただくとともに,東京大学より溝口照康先生をお招きし,分析電子顕微鏡,理論計算および情報科学手法を用いたナノ構造解析についてご講演頂く予定です.あわせて,文部科学省の「先端研究基盤共用促進事業」の一環であるMANBOU(ナノ物質科学・バイオサイエンス顕微解析ユニット)ならびにMASAOU(マテリアル分析・構造解析共用ユニット)の機器を利用した研究例についてもご紹介頂く予定です.

【日時】
2018年3月9日(金)10:00~16:30
【場所】北海道大学工学部材料・化学棟2F MC208講義室

【主催】
北海道大学微細構造解析プラットフォーム
北海道大学工学部超高圧電子顕微鏡室
北海道大学工学部ナノ・マイクロマテリアル分析研究室

【お問い合せ】北海道大学大学院工学研究院 坂口紀史
E-mail:sakaguchi(at)eng.hokudai.ac.jp  Tel:011-706-6768