参画機関から

微細構造解析 東京大学 東京大学

TEMユーザーズミーティング(12月8日)開催のお知らせ

【日時】2017年12月8日(金)10:00~18:00
【場所】東京大学 武田先端知ビル5F 武田ホール
【主催】東京大学・微細構造解析プラットフォーム,東京大学・日本電子産学連携室

【プログラム】
9:30~10:00 受付
10:00~10:10 開会挨拶

10:10~10:30 高感度カメラと新機能を搭載したJEM-1400Flashの紹介 日本電子株式会社 EM事業ユニット
濱元千絵子
10:30~10:50 最新の自動収差補正システムを搭載した電子顕微鏡 NEOARMの紹介 日本電子株式会社
EM事業ユニット 橋口裕樹
10:50~11:10 その場観察電子顕微鏡の新しい展望 日本電子株式会社 EM事業ユニット 福永啓一
11:10~11:30 最新FIB-SEM マルチビームシステム JIB-4700Fの紹介 日本電子株式会社 IB事業ユニット 門井美純

11:30~13:10 昼食・装置/ポスター展示セッション

13:10~14:00 原子分解能STEMの進展と材料科学への応用 東京大学大学院 工学系研究科 幾原雄一

14:00~14:10 休憩

14:10~14:40 分析電子顕微鏡とプリセッション電子回析を用いた材料解析 株式会社東レリサーチセンター
久留島康輔
14:40~15:00 高速ピクセル型STEM検出器の開発とその応用 日本電子株式会社 EM事業ユニット 佐川隆亮

15:00~15:30 休憩・装置/ポスター展示セッション

15:30~16:10 強度輸送方程式による電子波位相の定量計測とその応用 国立研究開発法人 物質・材料研究機構
三留正則
16:10~16:50 ソフトマテリアル電子顕微鏡観察におけるコントラスト増強と3次元その場観察へ向けての取り組み
東北大学 多元物質科学研究所 陣内浩司

16:50~17:00 閉会挨拶
17:00~18:00 懇親会

【参加費】無料
【参加申込方法】Webより申込(諸般事情によりWEBの申込が出来ない場合,FAXにて申込)
【参加申込締切】2017年11月30日(木)(*定員になり次第締切)

【お問い合せ】
日本電子株式会社 ユーザーズミーティング事務局
内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
E-Mail:jeolum(at)jeol.co.jp
TEL:03-6262-3560・FAX:03-6262-3577