参画機関から

微細構造解析 産業技術総合研究所 産業技術総合研究所

ナノテクノロジープラットフォーム微細構造解析PF「H29年度第2回地域セミナー」(11月22日)開催のお知らせ

【日時】2017年11月22日(水)13:30~17:00
【場所】JST東京本部 別館(K’s五番町)2階セミナー室

【主催】国立開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
【共催】文部科学省 ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム

【プログラム】
13:30-13:45 開会挨拶 分析計測標準研究部門 研究部門長 野中 秀彦, 概要説明 分析計測標準研究部門 副研究部門長 齋藤 直昭
13:45-14:10 「陽電子プローブマイクロアナライザー装置」 分析計測標準研究部門 主任研究員 O'Rourke Brian
14:10-14:35 「超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置」 分析計測標準研究部門 研究主幹 松林 信行
14:35-15:00 「極端紫外光光電子分光装置」 ナノエレクトロニクス研究部門 テクニカルスタッフ 石塚 知明
15:00-15:25 「超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡装置」 ナノエレクトロニクス研究部門 グループリーダー 浮辺 雅宏
15:25-15:35 休憩
15:35-16:00 「可視-近赤外過渡吸収分光装置」 分析計測標準研究部門 主任研究員 松崎 弘幸
16:00-16:25 「リアル表面プローブ顕微鏡装置」 分析計測標準研究部門 主任研究員 井藤 浩志
16:25-16:50 「固体NMR装置」 物質計測標準研究部門 招聘研究員 林 繁信
16:50-17:00 質疑応答・閉会

【定員】30名
【参加費】無料(*事前登録制)
【参加申込方法】E-mail(*入力必須項目あり)
 E-mail:ancf-info-ml(at)aist.go.jp
【参加申込締切】2017年11月17日(金)

【お問い合せ】産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
 E-mail:ancf-info-ml(at)aist.go.jp Tel:029-861-5300