参画機関から

微細構造解析 北海道大学,産業技術総合研究所

文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム「北海道大学・産業技術総合研究所 H29年度合同セミナー」(6月8日)開催のお知らせ

主催:
 国立大学法人 北海道大学 ナノテクノロジープラットフォーム
 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
共催:ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム

【日時】2017年6月8日(木)13:00~17:00(予定)
【場所】北海道大学 工学部フロンティア応用科学研究棟
【参加費】無料(*事前登録不要)

【プログラム】
13:00- 開催挨拶
<13:00-15:00 産総研微細構造解析プラットフォームの紹介>
13:10-13:30 全体概要:分析計測標準研究部門 副研究部門長 齋藤直昭
 産総研微細構造解析プラットフォームでは,国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して先端計測分析技術の開発を実施しています.その一環として,独自に開発した先端計測や分析機器などをナノテクノロジープラットフォーム事業で公開しています.
13:30-13:50 陽電子プローブマイクロアナライザー装置(PPMA)分析計測標準研究部門 首席研究員 鈴木良一
13:50-14:10 極端紫外光光電子分光装置(EUPS)
        分析計測標準研究部門 研究主幹 松林信行
14:10-14:30 固体NMR装置(SSNMR)
        物質計測標準研究部門 招聘研究員 林繁信
14:30-15:00 リアル表面プローブ顕微鏡装置とAFM(RSPM)
        分析計測標準研究部門 主任研究員 井藤浩志
<15:15-16:20 北大プラットフォームの紹介>
15:15-15:30 全体概要:電子科学研究所ナノテク連携推進室 准教授 松尾保孝
 国立大学法人北海道大学では,(1)表面構造,(2)内部構造・3D構造,(3)電子状態分析の観点からナノ~マイクロメートルオーダーにわたる材料・デバイスの分析・評価に関する研究支援を行います.
 最新のX線光電子分光装置,オージェ電子分光装置,電子プローブマイクロアナライザーといった表面分析装置による表面構造解析支援,2台の高エネルギーイオン加速器を持つ世界に唯一の超高圧電子顕微鏡を含めた多種多様な電子顕微鏡群とSEM-FIBなどの試料加工装置の組み合わせによる内部構造・3次元構造解析支援,環境セルホルダーを用いたその場観察TEMや超高真空・極低温・強磁場SPMを用いた環境制御下での分析支援,超高速時間分解光電子顕微鏡を用いた電子状態の解析が可能なシステムを提供し,新機能ナノ物質創出や新規デバイス創製への研究,技術,製品開発の支援を行います.
15:30-15:50 集束イオンビーム加工・観察装置(FIB-SEM)
        ナノ・マイクロマテリアル分析研究室 技術職員 遠堂敬史
15:50-16:20 走査型トンネル顕微鏡/スピン偏極走査型トンネル顕微鏡(STM/SP-STM)
        ナノテク連携研究推進室 博士研究員 アグス・スパギョ
16:20- 質疑応答

【お問い合わせ先】
 北海道大学 ナノテクノロジー連携研究推進室
 E-mail:nanoplat(at)cris.hokudai.ac.jp