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微細加工 産業技術総合研究所 産業技術総合研究所

光ナノ計測実践セミナーII(5月30日)開催のお知らせ

 産業技術総合研究所ナノプロセシング施設(NPF)は,「光ナノ計測実践セミナーII」を,2017年 5月30日(火)産業技術総合研究所ナノプロセシング施設にて開催いたします.超解像観察技術,共焦点技術,走査プローブ技術等を用いたナノスケールの計測・評価について講演していただく予定です.オーサーズ・インタビューの時間を設けましたので,講師の方々に個別に質問をすることが可能です.また,実習コースでは,NPFのレーザー顕微鏡や,走査プローブ顕微鏡(SPM)を用いた観察技術について,基本的なスキルを身につけていただけるコースとなっています.
 奮ってのご参加をお待ちしています.

主催:産業技術総合研究所ナノプロセシング施設(NPF)
共催:ナノエレクトロニクス計測分析技術研究会(TSC)

【日時】2017年5月30日(火)12:55-17:20
【場所】産業技術総合研究所 つくば中央第2 事業所 2-12棟 第6会議室
http://www.aist.go.jp/aist_j/guidemap/tsukuba/center/tsukuba_map_c.html
【定員】90名(先着順,参加登録をお願い致します)
【参加費】無料
【参加申込締切】2017年5月26日(月)15:00

【講演プログラム】
12:55-13:00 「はじめに」産総研 共用施設ステーション 多田哲也
13:00-13:50 「超解像光学顕微鏡をもちいた生物試料の数十nm精度での観察技術」
       産総研 バイオメディカル研究部門 加藤 薫
13:50-14:20 「バイオイメージングにおける超解像顕微鏡の原理と応用」(株)ニコン 今井健太
14:20-14:40 「ナノプロセシング施設に於けるレーザー顕微鏡と走査プローブ顕微鏡」
       産総研 ナノプロセシング施設 山崎将嗣
14:40-15:00 休憩(オーサーズインタビュー)
15:00-15:30 「レーザー顕微鏡及びAFMを用いた表面性状評価」オリンパス(株) 牛丸元春
15:30-16:00 「白色コンフォーカル顕微鏡を用いたナノ計測」レーザーテック(株) 小堀 亮
16:00-16:30 「空間分可能10nmを可能にするAFM-IR赤外分光分析スペクトロスコピーの現状」
       (株)日本サーマルコンサルティング 浦山憲雄
16:30-17:00 「周波数変調AFMによる潤滑界面の顕微測定」(株)島津製作所 粉川良平
17:00-17:20 オーサーズインタビュー

【実習コース】

◆レーザー顕微鏡コース
日時:2017年5月31日(水)
定員:5名
短波長レーザー顕微鏡(OLS4100)を用いて,3次元測定,液浸観察を含め,レーザー顕微鏡のスキルを学んで頂きます.
◆走査プローブ顕微鏡コース
日時:2017年6月1日(木)
定員:4名
走査プローブ顕微鏡(SPM-9700)を用いて,SPM観察技術の基礎を学んで頂きます.

【お問合せ】
 
産業技術総合研究所 TIA推進センター ナノプロセシング施設
 Email:tia-npf-school1(at)aist.go.jp