参画機関から

微細構造解析 産業技術総合研究所 産業技術総合研究所

文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム「H28年度第2回地域セミナー」(11月11日)開催のお知らせ

主催:国立研究開発法人 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
共催:ナノテクノロジープラットフォーム 微細構造解析プラットフォーム
     国立研究開発法人 科学技術振興機構 イノベーション拠点推進部

【日時】2016年11月11日(金)13:30~16:50
【場所】JST東京本部 別館(K’s五番町)4階会議室E
【定員】25名
【参加費】無料

 産総研では,国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して先端計測分析技術の開発を実施しています.その一環として,独自に開発した先端計測や分析機器などを「ナノテクノロジープラットフォーム微細構造解析プラットフォーム」の制度で公開しています.
 本セミナーでは,公開装置の概要と測定事例,また,公開機器の利用方法などを紹介します.

13:30-13:50 挨拶・概要説明 分析計測標準研究部門 副研究部門長 齋藤 直昭
13:50-14:20 「陽電子プローブマイクロアナライザー装置」
         分析計測標準研究部門 主任研究員 ORourke Brian
14:20-14:50 「超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置」
         分析計測標準研究部門 研究主幹 松林 信行
14:50-15:20 「極端紫外光光電子分光装置」
         ナノエレクトロニクス研究部門 テクニカルスタッフ 石塚 知明
15:20-15:30 休憩
15:30-16:00 「リアル表面プローブ顕微鏡装置」
         分析計測標準研究部門 主任研究員 井藤 浩志
16:00-16:30 「固体NMR装置」
         物質計測標準研究部門 招聘研究員 林  繁信
16:30-16:50 「利用方法説明」
         分析計測標準研究部門 研究主幹 松林 信行


【参加申込方法】E-mail(*当日参加申込可)

【お問い合わせ】
 産業技術総合研究所 先端ナノ計測施設(ANCF)
 E-mail:ancf-info-ml(at)aist.go.jp