参画機関から

微細構造解析 九州大学 九州大学

ナノテク産業化基盤技術の有効利用および高度化と融合を目指した研究会2015(3月13日)開催のお知らせ

日時:平成27年3月13日(金)13:00~17:45
主催:九州大学超顕微解析研究センター
    文科省微細構造解析プラットフォーム
    九州大学学術研究都市推進機構(OPACK)
場所:九州大学 伊都ゲストハウス(伊都キャンパス)

 電子顕微鏡によるエネルギー分散型X線分光法(XEDS)に関して,高純度シリコンドリフト型検出器SDDの出現によって,いろいろな検出効率改善の試みがなされています.今回はこれらの新しい技術紹介をする機会を設けました.この他に,特別講演として企業の研究者から“材料の微細構造解析に関わる話題”を提供していただきます.
 皆様奮ってご参加くださいますようご案内申し上げます.

【主催】
 九州大学超顕微解析研究センター
 文科省微細構造解析プラットフォーム
 九州大学学術研究都市推進機構(OPACK)

◆プログラム

・高効率X線検出装置(Dual SDD)の開発 
      福永 啓一    日本電子

・Designing a large SDD solid angle EDX system with low spurious peaks and a high Fiori Peak-to-Background ratio
   - An EDX system for all applications
      Alex Bright       FEI Company Japan Ltd.

・STEM用マイクロカロリーメーター XEDSの開発
      田中 啓一  日立ハイテクサイエンス

<特別講演>
・先端解析技術を駆使した鉄鋼材料の研究・開発と“文科省設備共用制度:微細構造解析プラットフォーム”への期待
      佐藤 馨   JFEスチール
                              
◆参加費:無料

[お問い合わせ]
友清 芳二(九州大学 超顕微解析研究センター)
Tel&Fax:092-802-3292 E-mail:tomokiyo.yoshitsugu.620(at)m.kyushu-u.ac.jp



詳しくは,参考URLおよび研究会案内(PDF)をご参照ください.