<拡大>
 

イベント詳細情報

印刷
件名東京大学・微細構造解析プラットフォーム 平成30年度夏学期X線解析講習会 薄膜X線回折基礎コース
開始日時2018/06/26 10:00
終了日時2018/06/27 17:00
場所講義:東京大学情報基盤センター 遠隔講義室,実習:東京大学工学部9号館3階331室
連絡先seminar-info(at)soyak.t.u-tokyo.ac.jp
詳細初心者編 薄膜X線回折法の基礎
講義:6月26日(火)10:00~16:00
 X線回折を用いた多結晶薄膜やエピタキシャル薄膜の評価方法について解説する.
実習:6月27日(水)10:00~17:00
 各評価手法(X線反射率,Out of plane / In-plane回折,極点,ロッキングカーブ,逆格子マップ)の測定と解析の実習を行う.

【主催】東京大学・微細構造解析プラットフォーム,リガク株式会社

【参加費】無料

【定員】講義:50名/実習:8名(*定員になり次第締切)

【参加申込方法】E-mail(*入力必須項目あり)または,下記の申込フォームより登録
https://www.rigaku.co.jp/sangaku/seminar/contact1806.html

【参加申込締切】2018年6月19日(火)

詳しくは,URLおよび開催案内(PDF)をご参照ください.
【URL】https://www.rigaku.co.jp/sangaku/seminar/index.html
【開催案内】平成30年度夏学期X線解析講習会.pdf