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イベント詳細情報

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件名第33回 分析電子顕微鏡討論会
開始日時2017/09/05 10:00
終了日時2017/09/06 16:50
場所幕張メッセ国際会議場2階 国際会議室(千葉県千葉市)
連絡先bunseki33(at)eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
詳細 分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについての講演が行われる.チュートリアルでは,分析電顕の基軸となるEDS,EELSに加えて,信号解析を取り上げ,トピックスセッションでは,「電子線照射に弱い試料分析」に焦点をあてて,電子線照射の効果や最新の研究事例を紹介し,「電子線 vs X線―どちらがすごい?」というセッションで,電子線とX線を用いた構造・状態解析に関する先導的な研究が報告される.

【主催】 日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会

【参加申込締切】 2017年8月29日(火)

【お問い合わせ】
 京都大学 化学研究所 複合ナノ解析化学 内
 分析電子顕微鏡討論会事務局
 E-mail: bunseki33(at)eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp

プログラムおよび参加申込等の詳細は,以下のURLをご参照ください.
【URL】 http://eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp/bunseki2017/