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イベント詳細情報

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件名先端計測分析技術・機器開発プログラム 新技術説明会
開始日時2017/03/16 09:55
終了日時2017/03/16 15:55
場所JST東京本部別館1Fホール
連絡先scett(at)jst.go.jp
詳細 JSTの先端計測分析技術・機器開発プログラム発の新技術10件の説明が行われる.
 製造技術分野で「ナノ精度コピーによる超高精度ミラー作製」,計測分野で「超高感度無線無電極MEMS水晶振動子センサーの開発」など3件,分析分野で「単色高エネルギーX線を用いて物体内部の組成変化と構造変化を検出する方法」など4件,アグリ・バイオ分野で「多サンプルの同時免疫分析を可能とする2次元蛍光偏光度測定(偏光度イメージング)」など2件の説明がある.

【主催】科学技術振興機構(JST)

【参加費】無料(*事前参加登録制)

詳しくは,URLをご参照ください.
【URL】https://shingi.jst.go.jp/kobetsu/sentan/2016_sentan.html